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Bernard Legrand
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Very high frequency probes for atomic force microscopy with silicon optomechanicsMicrosystems & Nanoengineering, 2022, 8, pp.32. ⟨10.1038/s41378-022-00364-4⟩
Article dans une revue
hal-03326075v2
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High Speed Atomic Force MicroscopePoster de conférence hal-01529673v1 |
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Développement d'une platine de déplacements nanométriques pour la réalisation d'un Microscope à Force Atomique (AFM) rapide[Rapport Technique] LAAS-CNRS. 2019
Rapport
hal-03603368v1
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