Frédéric Houzé

Publications

Article dans une revue (38)

Effect of current intensity and polarity on the electrical performances of slip ring contacts Corentin Ferreira,Manon Isard,Sophie Noël,Aurore Brézard-Oudot,Frédéric Houzéet al. Journal of Tribology, 2026, 148 (3), pp.034602. ⟨10.1115/1.4070001⟩ Article dans une revue hal-05279533v1
Influence of the Oxide Layer Thickness on the Behavior of the Electrical Wheel–Rail Contact in Static Conditions Luna Haydar,Florent Loete,Frédéric Houzé,Karim Slimani,Fabien Guicheet al. Applied Sciences, 2025, 15 (1), pp.471. ⟨10.3390/app15010471⟩ Article dans une revue hal-04882371v1
The surface charge effects: A route to the enhancement of the piezoelectric conversion efficiency in GaN nanowires N Gogneau,Pascal Chrétien,Tanbir Kaur Sodhi,Quang Chieu Bui,A Chevillardet al. Nano Trends, 2025, 9, pp.100082. ⟨10.1016/j.nwnano.2025.100082⟩ Article dans une revue hal-04965536v1
Influence of Steel Oxidation on the Behavior of the Wheel-Rail Electrical Contact in Dynamic Conditions Luna Haydar,Florent Loete,Frédéric Houzé,Karim Slimani,Fabien Guicheet al. Applied Sciences, 2025, 2025 (15), pp.5760. ⟨10.3390/app15105760⟩ Article dans une revue hal-05077506v1
Calibrating Resistance and Current Measurements in Conductive Probe Atomic Force Microscopy: New Reference Samples and Calibration Methods François Piquemal,Pascal Chrétien,José Morán‐meza,Frédéric Houzé,Alexandra Delvalléeet al. Physica Status Solidi A (applications and materials science), 2025, ⟨10.1002/pssa.202400711⟩ Article dans une revue hal-04922885v1
Surface Charge: An Advantage for the Piezoelectric Properties of GaN Nanowires Tanbir Kaur Sodhi,Pascal Chrétien,Quang Chieu Bui,Amaury Chevillard,Laurent Traverset al. Nanoenergy Advances, 2024, 4 (2), pp.133-146. ⟨10.3390/nanoenergyadv4020008⟩ Article dans une revue (article de synthèse) hal-04569902v1
Experimental Study and Phenomenological Laws of Some Nonlinear Behaviours of the Wheel–Rail Contact Associated with the Deshunting Phenomenon Guy-Léon Kaza,Frédéric Houzé,Florent Loëte,Philippe Teste Applied Sciences, 2023, 13 (21), pp.11752. ⟨10.3390/app132111752⟩ Article dans une revue hal-04297829v1
Enhancing railway network safety by reproducing wheel–rail electrical contact on a laboratory scale Luna Haydar,Florent Loete,Frédéric Houzé,Tanguy Choupin,Fabien Guicheet al. Applied Sciences, 2023, 13 (18), pp.10253. ⟨10.3390/app131810253⟩ Article dans une revue hal-04207532v1
A multi-resistance wide-range calibration sample for conductive probe atomic force microscopy measurements François Piquemal,Khaled Kaja,Pascal Chrétien,José Morán-Meza,Frédéric Houzéet al. Beilstein Journal of Nanotechnology, 2023, 14, pp.1141-1148. ⟨10.3762/bjnano.14.94⟩ Article dans une revue hal-04299424v1
Electromechanical conversion efficiency of GaN NWs: critical influence of the NW stiffness, the Schottky nano-contact and the surface charge effects Noelle Gogneau,Pascal Chrétien,Tanbir Sodhi,Laurent Couraud,Laetitia Leroyet al. Nanoscale, 2022, 14 (13), pp.4965-4976. ⟨10.1039/d1nr07863a⟩ Article dans une revue hal-03719768v1
Determination of the Power Balance for Thin Ag-SnO2 Electrodes Submitted to an Electric Arc Based on IR Thermography Romaric Landfried,Mohamed Boukhlifa,Frédéric Houzé,Thierry Leblanc,Philippe Teste IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology, 2022, ⟨10.1109/TCPMT.2022.3212471⟩ Article dans une revue hal-03800996v1
Estimation of the power flux supplied by an electric arc to Ag-SnO2 electrodes based on cross-section observations of the melted zone Aurélien Fouque,Georges Cailletaud,Alexandre Bonhomme,François Chaudot,Vladimir A. Esinet al. European Physical Journal: Applied Physics, 2020, 89 (2), pp.20901. ⟨10.1051/epjap/2020190222⟩ Article dans une revue hal-02903887v1
High piezoelectric conversion properties of axial InGaN/GaN nanowires Nicoletta Jegenyes,Martina Morassi,Pascal Chrétien,Laurent Travers,L Luet al. Nanomaterials, 2018, 8 (6), pp.367. ⟨10.3390/nano8060367⟩ Article dans une revue hal-01798270v1
Energy harvesting efficiency in GaN nanowire-based nanogenerators: the critical influence of the Schottky nanocontact Nicolas Jamond,Pascal Chrétien,Lina Gatilova,Elisabeth Galopin,Laurent Traverset al. Nanoscale, 2017, 9 (13), pp.4610 - 4619. ⟨10.1039/c7nr00647k⟩ Article dans une revue hal-01501840v1
Piezo-generator integrating a vertical array of GaN nanowires N C Jamond,Pascal Chrétien,Frédéric Houzé,Lu Lu,L Largeauet al. Nanotechnology, 2016, 27, pp.325403. ⟨10.1088/0957-4484/27/32/325403⟩ Article dans une revue hal-01390969v1
Techniques de mesure de grandeurs électriques adaptées aux nano-circuits Brice Gautier,Pascal Chrétien,Khalifa Aguir,Frédéric Houzé,Olivier Schneeganset al. Les Techniques de l'Ingenieur, 2016, Mesures-Analyses / Mesures et tests électroniques, pp.R1084 V1. ⟨10.51257/a-v1-r1084⟩ Article dans une revue hal-01432552v1
From single III-nitride nanowires to piezoelectric generators: New route for powering nomad electronics Noëlle Gogneau,Nicolas Jamond,Pascal Chrétien,Frédéric Houzé,Elie Lefeuvreet al. Semiconductor Science and Technology, 2016, 31, pp.103002. ⟨10.1088/0268-1242/31/10/103002⟩ Article dans une revue hal-01390955v1
Wide range local resistance imaging on fragile materials by conducting probe atomic force microscopy in intermittent contact mode Aymeric Vecchiola,Pascal Chrétien,Sophie Delprat,Karim Bouzehouane,Olivier Schneeganset al. Applied Physics Letters, 2016, 108, pp.243101. ⟨10.1063/1.4953870⟩ Article dans une revue cea-01331971v1
Conducting Probe Atomic Force Microscope as a Relevant Tool for Studying Some Phenomena in MEMS Switches Alexis Peschot,Maxime Vincent,Christophe Poulain,Denis Mariolle,Frédéric Houzéet al. Sensing and Imaging: An International Journal, 2015, 16, pp.21. ⟨10.1007/s11220-015-0124-1⟩ Article dans une revue hal-01235862v1
GaN nanowires for piezoelectric generators Noelle Gogneau,Pascal Chrétien,Elisabeth Galopin,Stephane Guilet,Laurent Traverset al. physica status solidi (RRL) - Rapid Research Letters (pss RRL), 2014, 8 (5), pp.414-419. ⟨10.1002/pssr.201409105⟩ Article dans une revue istex hal-01093504v1
Specific methodology for capacitance imaging by atomic force microscopy: A breakthrough towards an elimination of parasitic effects Ivan Estevez,Pascal Chrétien,Olivier Schneegans,Frédéric Houzé Applied Physics Letters, 2014, 104 (8), pp.083108. ⟨10.1063/1.4866607⟩ Article dans une revue hal-01093500v1
Impact of the GaN nanowire polarity on energy harvesting Noelle Gogneau,Pascal Chrétien,Elisabeth Galopin,Stephane Guilet,Laurent Traverset al. Applied Physics Letters, 2014, 104 (21), pp.213105. ⟨10.1063/1.4880101⟩ Article dans une revue hal-01096617v1
Conductive-probe AFM characterisation of graphene sheets bonded to gold surfaces Fanny Hauquier,David Alamarguy,Pascal Viel,Sophie Noël,Arianna Filoramoet al. Applied Surface Science, 2012, 258 (7), pp.2920- 2926. ⟨10.1016/j.apsusc.2011.10.152⟩ Article dans une revue istex cea-00960581v1
Evaluation of the nanotube intrinsic resistance across the tip-carbon nanotube-metal substrate junction by Atomic Force Microscopy Maguy Dominiczak,Larissa Otubo,David Alamarguy,Frédéric Houzé,Sebastian Volzet al. Nanoscale Research Letters, 2011, 6, pp.335-347. ⟨10.1186/1556-276X-6-335⟩ Article dans une revue halshs-00587572v1
Multi-scale investigation of electronic transport and electromechanical behavior in carbon nanotubes materials A. Mdarhri,D. Alamarguy,F. Houzé,S. Noël,S. Volzet al. Composites Part B: Engineering, 2011, 42, pp.2098-2104. ⟨10.1016/j.compositesb.2011.05.003⟩ Article dans une revue istex hal-00626568v1
Field emission and material transfer in microswitches electrical contacts Maxime Vincent,Stephen William Rowe,Christophe Poulain,Denis Mariolle,Laurent Chiesiet al. Applied Physics Letters, 2010, 97 (26), pp.263503. ⟨10.1063/1.3529474⟩ Article dans une revue hal-00554768v1
Nanocomposite thin films for surface protection in electrical contact applications Sophie Noël,David Alamarguy,Frédéric Houzé,Alessandro Benedetto,Pascal Vielet al. IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies, 2009, 32 (2), pp.358-364. ⟨10.1109/TCAPT.2008.2011915⟩ Article dans une revue cea-01022834v1
Metal-rich Au-silicide nanoparticles for use in nanotechnology E. Moyen,M. Macé,G. Agnus,A. Fleurence,T. Maroutianet al. Applied Physics Letters, 2009, 94, pp.233101 Article dans une revue hal-00413540v1
Influence of morphology on the conductance of single-crystal diamond surfaces measured by atomic force microscopy Erwan Tranvouez,E. Boer-Duchemin,A.J. Mayne,T. Vanderbruggen,M. Scheeleet al. Journal of Applied Physics, 2009, 106 (5), pp. 054301-1 054301-7 Article dans une revue hal-00444497v1
Tribological and electrical study of Fluorinated Diazonium Films as dry lubricants for electrical contacts David Alamarguy,Alessandro Benedetto,Mirela Balog,Sophie Noël,Pascal Vielet al. Surface and Interface Analysis, 2008, 40, pp.802-805. ⟨10.1002/sia.2775⟩ Article dans une revue istex cea-01056595v1
Capacitance measurements on small parallel plate capacitors using nanoscale impedance microscopy Olivier Schneegans,Frédéric Houzé,Pascal Chrétien,René Meyer Applied Physics Letters, 2007, 90, pp.043116 Article dans une revue hal-00320357v1
Local photoconductivity on diamond metal-semiconductor-metal photodetectors measured by conducting probe atomic force microscopy José Alvarez,Frédéric Houzé,Jean-Paul Kleider,M. Liao,Y. Koide Diamond and Related Materials, 2007, 16, pp.1074-1077 Article dans une revue hal-00320360v1
Electrical characterization of Schottky diodes based on boron doped homoepitaxial diamond films by conducting probe atomic force microscopy José Alvarez,Frédéric Houzé,Jean-Paul Kleider,M. Liao,Y. Koide Superlattices and Microstructures, 2006, 40, pp.343-349 Article dans une revue hal-00320288v1
Local electrical characterization of Schottky diodes on H-terminated diamond surfaces by conducting probe atomic force microscopy Frédéric Houzé,José Alvarez,Jean-Paul Kleider,P. Bergonzo,E. Snideroet al. Diamond and Related Materials, 2006, 15, pp.618-621 Article dans une revue hal-00320285v1
Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe atomic force microscopy in contact mode Frédéric Houzé,Pascal Chrétien,Olivier Schneegans,René Meyer,Lionel Boyer Applied Physics Letters, 2005, 86, pp.123103 Article dans une revue hal-00320223v1
“ Copper sample analyzed with an n-doped silicon tip using conducting probe atomic force microscopy Olivier Schneegans,Lionel Boyer,Frédéric Houzé,René Meyer,Pascal Chrétien Journal of Vacuum Science and Technology, 2002, 20, pp.1929 Article dans une revue hal-00098202v1
Bulk and surface structural properties of Si$_{1-x-y}$Ge$_x$C$_y$ layers processed on Si(001) by pulsed laser induced epitaxy C. Guedj,J. Boulmer,D. Bouchier,C. Clerc,G. Calvarinet al. Applied Surface Science, 1996, 102, pp.28-32 Article dans une revue in2p3-00000499v1
Élaboration et caractérisation chimique, topographique, tribologique et électrique de films de polyacrylonitrile post-traités en vue d'applications en connectique Pascal Newton,Frédéric Houzé,Sophie Noël,Lionel Boyer,Pascal Vielet al. Journal de Physique III, 1995, 5 (6), pp.661-675. ⟨10.1051/jp3:1995153⟩ Article dans une revue istex jpa-00249338v1

Communication dans un congrès (84)

Development of reference samples for calibrating resistance and current measurements in Conductive probe Atomic Force Microscopy José A. Morán-Meza,Pascal Chrétien,François Piquemal,Frédéric Houzé,Christian Ulysseet al. International Metrology Congress - CIM2025, Mar 2025, Lyon (FRANCE), France Communication dans un congrès hal-05023736v1
Development of measuring protocols and data processing methods for reference samples designed to calibrate electrical measurements at nanoscale Pascal Chrétien,François Piquemal,Frédéric Houzé,José Morán‐meza,Christian Ulysseet al. C’Nano 2025 – The Nanoscience Meeting, Mar 2025, Paris, France Communication dans un congrès hal-05023777v1
Mise au point de protocoles expérimentaux et de méthodes d’analyse des données pour les échantillons de référence destinés à étalonner les mesures électriques à l'échelle nanométrique Pascal Chrétien,François Piquemal,Frédéric Houzé,José A. Morán-Meza,Christian Ulysseet al. 26ème Forum des microscopies à sonde locale, Mar 2025, Spa, Belgique. pp.111-112 Communication dans un congrès hal-05023844v1
Development of first universal standard samples for calibrating resistance and current measurements in Conductive-probe Atomic Force Microscopy François Piquemal,Pascal Chrétien,José Morán‐meza,Frédéric Houzé,Christian Ulysseet al. 2024 Spring Meeting of the European Materials Research Society (E-MRS), May 2024, Strasbourg, France Communication dans un congrès hal-05293986v1
The surface charge effects: a route to the enhancement of the piezoelectric conversion efficiency in GaN NWs - Invited Speaker Noëlle Gogneau,Pascal Chrétien,Amaury Chevillard,Tanbir Sodhi,Szu-Wei Chenet al. Nanogenerators and Piezotronics (NGPT2024), May 2024, Madison (US-WI), United States Communication dans un congrès hal-04994360v1
Surface charge effects: An advantage for enhancing the piezoelectric conversion efficiency in GaN NWs - Invited Talk Noëlle Gogneau,Pascal Chrétien,Amaury Chevillard,Tanbir Sodhi,Szu-Wei Chenet al. 2024 Spring Meeting of the European Materials Research Society (E-MRS), Apr 2024, Seattle (USA), Washington, United States Communication dans un congrès hal-04994306v1
ELENA project – electrical nanoscale metrology in industry: key outcomes François Piquemal,Johannes Hoffmann,Khaled Kaja,Brice Gautier,Andreas Hertwiget al. Journées Plénières GDR NAME 2024, Nov 2024, Lille (Villeneuve d'Ascq), France Communication dans un congrès hal-04748829v1
Comportement électrique et tribologique des contacts glissants or/or d’un collecteur tournant type cil/bague Corentin Ferreira,Aurore Brézard-Oudot,Manon Isard,Sophie Noël,Frédéric Houzéet al. 34èmes Journées Internationales Francophones de Tribologie, May 2023, Lille, France. pp. 44-46 Communication dans un congrès hal-04128765v1
How Can InGaN/GaN Heterostructures Be Advantageous for the Piezoelectric Conversion of GaN Nanowires and their Energy Harvesting Applications? Amaury Chevillard,Quang Chieu Bui,Pascal Chrétien,Nuño Amador-Méndez,Arup Kuntiet al. JNRSE 2023 - Journées Nationales sur la Récupération et le Stockage de l'Energie, Jun 2023, Paris, France Communication dans un congrès hal-05284589v1
Surface charge effects in GaN NWs: An advantage for enhancing the piezoelectric conversion efficiency Noëlle Gogneau,Pascal Chrétien,Amaury Chevillard,Tanbir Sodhi,Laurent Couraudet al. 14th International Conference on Nitride Semiconductors, Nov 2023, Fukuoka, Japan Communication dans un congrès hal-04994342v1
Electrical and tribological behaviour of gold/gold sliding contacts of the wire/ring type for slip ring applications Corentin Ferreira,Aurore Brézard-Oudot,Manon Isard,Sophie Noël,Frédéric Houzéet al. 68th Holm Conference on Electrical Contacts, Oct 2023, Seattle (USA), Washington, United States. pp.278-284, ⟨10.1109/HOLM56075.2023.10352303⟩ Communication dans un congrès hal-04207904v1
How can the surface charge effects be advantageous for enhancing the piezo-conversion efficiency in GaN NWs? Noëlle Gogneau,Pascal Chrétien,Amaury Chevillard,Tanbir Sodhi,Laurent Couraudet al. MRS Spring Meeting & Exhibit 2023, Apr 2023, San Francisco California, United States Communication dans un congrès hal-04994323v1
A wheel-rail electrical contact experiment at the laboratory scale Luna Haydar,Florent Loete,Frédéric Houzé,Philippe Teste,Tanguy Choupinet al. 4th International Railway Symposium Aachen (IRSA 2023), Nov 2023, Aachen (Aix la Chapelle), Germany Communication dans un congrès hal-04214192v1
How Can InGaN/GaN Heterostructures Be Advantageous for the Piezoelectric Conversion of GaN Nanowires and their Applications? Amaury Chevillard,Quang Chieu Bui,Pascal Chrétien,Nuño Amador-Méndez,Arup Kuntiet al. OPERA - WG2 - Application-oriented material development, Sep 2023, Bucarest, Romania Communication dans un congrès hal-05284601v1
Calibrating Resistance Measurements in Conductive Probe Atomic Force Microscopy: development of the first universal standard sample François Piquemal,Khaled Kaja,Pascal Chrétien,José A. Morán-Meza,Frédéric Houzéet al. Nanoscale 2023 : 13th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 9th Seminar on Nanoscale Calibration, Standards and Methods, Oct 2023, Helsinki (Finland), Finland. pp.77-78 Communication dans un congrès hal-04230175v1
Innovative sol-gel coatings for corrosion protection of connector housings Julien Acquadro,Sophie Noël,Pascal Chrétien,Frédéric Houzé,Philippe Testeet al. 67th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Oct 2022, Tampa, FL, United States. ⟨10.1109/HLM54538.2022.9969778⟩ Communication dans un congrès hal-03801186v1
Characterization of innovative sol-gel coatings by electrical and mechanical measurements by atomic force microscopy techniques Julien Acquadro,Sophie Noël,Pascal Chrétien,Frédéric Houzé,Philippe Testéet al. SOL-GEL 2022, Jul 2022, Lyon, France Communication dans un congrès hal-03843900v1
High electromechanical conversion properties of III-Nitride nanowires for piezoelectric energy harvesting: Towards the development of batteryless wireless micro-devices - Invited Speaker Noëlle Gogneau,Pascal Chrétien,Martina Morassi,Tanbir Sodhi,Laurent Traverset al. 20th International Symposium on the Physics of Semiconductors and Applications (ISPSA 2022), Jul 2022, Jeju City, Jeju Island, South Korea Communication dans un congrès hal-04994374v1
Electrical characterization of PA-MBE grown GaN nanowires via conductive probe AFM - Effect of load and generator resistances Tanbir Sodhi,Pascal Chrétien,Laurent Travers,Frédéric Houzé,Noëlle Gogneau Summer School of the GDR-PULSE network, Jul 2021, Porquerolles, France Communication dans un congrès hal-03844452v1
Piezoelectric properties of axial InGaN/GaN Nanowires Noëlle Gogneau,Pascal Chrétien,Martina Morassi,Tanbir Sodhi,Laurent Traverset al. Journées Nationales des Nanofils semiconducteurs - J2N 2019, Nov 2019, Lyon, France Communication dans un congrès hal-02337971v1
Apport de l'AFM à pointe conductrice pour la caractérisation des performances de piézo-génération de nanofils GaN Tanbir Sodhi,Pascal Chrétien,Nicolas Jamond,Noëlle Gogneau,Frédéric Houzé 22ème Forum des Microscopies à Sondes Locales, Mar 2019, Carry-le-Rouet, France. pp.167 Communication dans un congrès hal-02152858v1
Piezoelectric energy nanoharvester based on vertically-aligned GaN nanowires Junkang Wang,Lu Lu,Tanbir Sodhi,Pascal Chrétien,Frédéric Houzéet al. Nanowire Week 2019, Sep 2019, Pise, Italy Communication dans un congrès hal-02337899v1
Piezoelectric properties of GaN Nanowires: Effect of their conductivity Tanbir Sodhi,Pascal Chrétien,Martina Morassi,Laurent Travers,Lu Luet al. Journées Nationales des Nanofils semiconducteurs - J2N 2019, Nov 2019, Lyon, France Communication dans un congrès hal-02337953v1
Printed copper connections on flexible substrates Nataliya Kalashnyk,Sophie Noël,Pascal Chrétien,Aurore Brézard-Oudot,Thierry Leblancet al. 65th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Sep 2019, Milwaukee, United States. pp.350-358, ⟨10.1109/HOLM.2019.8923847⟩ Communication dans un congrès hal-02154088v1
Observation of metallurgical changes induced by an electric arc to Ag-SnO2-CuO electrodes Aurélien Fouque,Georges Cailletaud,Vladimir A. Esin,Romaric Landfried,Philippe Testéet al. 65th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Sep 2019, Milwaukee, United States. pp.239-244, ⟨10.1109/HOLM.2019.8923681⟩ Communication dans un congrès hal-02155532v1
Proposition d’une méthode visant à estimer l’énergie apportée par un arc à une anode en Ag-SnO2 Aurélien Fouque,Alexandre Bonhomme,Georges Cailletaud,François Chaudot,Vladimir A. Esinet al. 14ème Colloque sur les Arcs Electriques, Mar 2019, Bourges, France Communication dans un congrès hal-02152896v1
GaN nanowires based piezoelectric generators Noelle Gogneau,Pascal Chrétien,Nicolas Jamond,L Lu,Nicoletta Jegenyeset al. 13th International Conference on Nitride Semiconductors - ICNS13, Jul 2019, Bellevue, United States Communication dans un congrès hal-02154041v1
Characterization of the piezoelectric-conversion properties of III-Nitride nanowires by conducting probe atomic force microscopy in intermittent contact mode Noëlle Gogneau,Pascal Chrétien,Martina Morassi,Nicoletta Jegenyes,Laetitia Leroyet al. 4th International Conference on Nanogenerators and Piezotronics (NGPT2018), May 2018, Seoul, South Korea Communication dans un congrès hal-01798287v1
Energy harvesting efficiency in GaN nanowires based nanogenerators: the critical influence of the Schottky nanocontact Nicolas Jamond,Pascal Chrétien,Lina Gatilova,Elizabeth Galopin,Laurent Traverset al. 4th International Conference on Nanogenerators and Piezotronics (NGPT2018), May 2018, Seoul, South Korea Communication dans un congrès hal-01798304v1
Interaction between electric arc and Ag-SnO2 electrodes Aurélien Fouque,Georges Cailletaud,Vladimir A. Esin,Romaric Landfried,Philippe Testéet al. 15th International High-Tech Plasma Processes Conference (HTPP2018), Jul 2018, Toulouse, France Communication dans un congrès hal-01927303v1
High Sensitivity Piezogenerator Based on GaN Nanowires L. Lu,N. Jamond,E. Lefeuvre,Pascal Chrétien,F. Houzéet al. Eurosensors 2017, Sep 2017, Paris, France. pp.587, ⟨10.3390/proceedings1040587⟩ Communication dans un congrès hal-01591362v1
Étude expérimentale du contact électrique roue/rail Florent Loete,Guy-Leon Kaza,Philippe Testé,Romaric Landfried,Frédéric Houzéet al. XIIIème Colloque sur les Arcs Electriques et Workshop Arcs et Contacts Electriques (CAE XIII ACE 2017), Mar 2017, Nancy, France Communication dans un congrès hal-01481567v1
Power flux brought by an electric arc on AgSnO2 electrodes Romaric Landfried,Frédéric Houzé,Thierry Leblanc,Philippe Philippe.Teste@supelec.Fr Teste 63rd IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Sep 2017, Denver, United States. pp.204-207, ⟨10.1109/holm.2017.8088087⟩ Communication dans un congrès hal-01591486v1
Détermination des caractéristiques du flux de puissance apporté à des électrodes en AgSnO2 par un arc non stationnaire dans l’air Philippe Testé,Romaric Landfried,Frédéric Houzé,Aurélien Fouque,Georges Cailletaudet al. XIIIème Colloque sur les Arcs Electriques et Workshop Arcs et Contacts Electriques (CAE XIII ACE 2017), Mar 2017, Nancy, France Communication dans un congrès hal-01481584v1
Piezoelectric conversion with InGaN/GaN nanowire heterostructures Nicoletta Jegenyes,Martina Morassi,Pascal Chrétien,Laurent Travers,L Luet al. 12th International Conference on Nitride Semiconductors - ICNS 12, Jul 2017, Strasbourg, France Communication dans un congrès hal-01591417v1
Soft ultrasonic exfoliation of multilayer graphene for an application to electrical contacts Kevin Dalla-Francesca,Sophie Noël,David Brunel,Frédéric Houzé,Pascal Chrétienet al. 28th International Conference on Electric Contacts (ICEC2016), Jun 2016, Edinburgh, United Kingdom. pp.225-230 Communication dans un congrès hal-01332540v1
Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent Aymeric Vecchiola,Pascal Chrétien,Karim Bouzehouane,Olivier Schneegans,Pierre Seneoret al. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France Communication dans un congrès hal-01317747v1
Nitride Nanowires: From Rigid to Flexible Piezo-generators L. Lu,N. Jamond,Pascal Chrétien,F. Houzé,L. Traverset al. PowerMEMS 2016, Dec 2016, Paris, France. ⟨10.1088/1742-6596/773/1/012010⟩ Communication dans un congrès hal-01653358v1
GaN nanowires for piezoelectric energy harvesting : Towards wireless sensors Noelle Gogneau,Nicolas Jamond,Pascal Chrétien,Frédéric Houzé,Elisabeth Galopinet al. Energy Materials Nanotechnology (EMN) Spring Meeting 2016, Mar 2016, Taipei, Taiwan Communication dans un congrès hal-01315747v1
Local resistance imaging on soft materials by conducting probe atomic force microscopy in intermittent contact mode Aymeric Vecchiola,Pascal Chrétien,Karim Bouzehouane,Olivier Schneegans,Pierre Seneoret al. NanoMetrology 2016, Jun 2016, Paris, France. pp.126 Communication dans un congrès hal-01320255v1
Electrical and structural mapping of friction induced defects in graphene layers Pascal Chrétien,Sophie Noël,Alexandre Jaffré,Frédéric Houzé,David Brunelet al. 62nd IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Oct 2016, Clearwater Beach, United States. pp.72-79, ⟨10.1109/holm.2016.7780010⟩ Communication dans un congrès hal-01332589v1
Piezo-Generator Integrating Vertical Array of GaN Nanowires: A new alternative energy source for nomad electronics Noëlle Gogneau,Nicolas Jamond,Laurent Travers,Jean-Christophe Harmand,Frank Glaset al. WTE 2016, Oct 2016, Paris-Saclay, France Communication dans un congrès hal-01631168v1
GaN nanowires based piezogenerator - Investigation of the GaN nanowires potentiality for the development of piezogenerators Nicolas Jamond,Laurent Travers,Franck Glas,Noelle Gogneau,Pascal Chrétienet al. Cinquièmes Journées Nationales sur la Récupération et le Stockage d'Energie , May 2015, Orsay, France. pp.21-22 Communication dans un congrès hal-01258276v1
Three-level multi-scale modeling of electrical contacts - sensitivity study and experimental validation Vladislav Yastrebov,Georges Cailletaud,Sophie Noël,Frederick Sorel Mballa-Mballa Mballa Mballa,Henry Proudhonet al. 61st IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Oct 2015, San Diego, United States. pp.414-422, ⟨10.1109/HOLM.2015.7355130⟩ Communication dans un congrès hal-01218663v1
Electrical characterization of graphene-like films at microscopic and macroscopic scale Kevin Dalla-Francesca,Sophie Noël,Aymeric Vecchiola,Frédéric Houzé,Pascal Chrétienet al. IEEE Holm 2014, Oct 2014, New Orleans, United States. pp.116-123 Communication dans un congrès hal-01099230v1
Avancées récentes sur les mesures de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en contact intermittent Aymeric Vecchiola,Frédéric Houzé,Pascal Chrétien,Olivier Schneegans 17e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2014, Montauban, France. pp.114 - 115 Communication dans un congrès hal-01093608v1
Multi-physical contact between elastic and elasto-plastic solids with fractal surfaces Vladislav Yastrebov,G. Anciaux,Frederick Mballa Mballa,Georges Cailletaud,Jean-François Molinariet al. MMM 2014, Oct 2014, Berkeley, United States. pp.284 Communication dans un congrès hal-01099232v1
Piezoelectric Potential of GaN Nanowires: Towards Efficient Output Piezo-generators N. Jamond,Pascal Chrétien,E. Galopin,Laurent Travers,J.C. Harmandet al. Atelier Nucléation Croissance et Surfaces Hétérogènes du GDR PULSE (Processus ULtimes en épitaxie de SEmiconducteurs), Apr 2014, Valbonne, France Communication dans un congrès hal-01099228v1
Multiscale modeling of electrical contacts Frederick Mballa Mballa,Vladislav Yastrebov,Frédéric Houzé,Georges Cailletaud,Sophie Noëlet al. MPMS 2014, ENSTA ParisTech, Oct 2014, Palaiseau, France Communication dans un congrès hal-01099234v1
Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent Aymeric Vecchiola,Pascal Chrétien,Olivier Schneegans,Frédéric Houzé,Karim Bouzehouaneet al. Journées Nationales en Nanosciences et Nanotechnologies J3N 2013, Nov 2013, Marseille, France Communication dans un congrès hal-00927020v1
Imagerie de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en mode contact intermittent Aymeric Vecchiola,Pascal Chrétien,Olivier Schneegans,Frédéric Houzé NANORGASOL 2013, Nov 2013, Mèze, France. pp.14 Communication dans un congrès hal-00927019v1
Développement d'une imagerie de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en mode contact intermittent Aymeric Vecchiola,Olivier Schneegans,Pascal Chrétien,Frédéric Houzé Forum 2013 des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2013, Spa, Belgique. pp.124-125 Communication dans un congrès hal-00927018v1
Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent Pascal Chrétien,Aymeric Vecchiola,Olivier Schneegans,Frédéric Houzé,Karim Bouzehouaneet al. Journées Nationales en Nanosciences et Nanotechnologies- J3N2012, Nov 2012, Bordeaux, France Communication dans un congrès hal-00778776v1
Observation of Branly's effect during shunting experiments on scaled wheel-rail contacts Hugues Chollet,Frédéric Houzé,Philippe Testé,Florent Loete,Xavier Loranget al. 9th International Conference on Contact Mechanics and Wear of Rail/Wheel Systems, Aug 2012, Chengdu, China. pp.111-114 Communication dans un congrès hal-00778780v1
Electrical behaviour of the wheel-rail contact Frédéric Houzé,Hugues Chollet,Philippe Testé,Xavier Lorang,Florent Loeteet al. ICEC 2012, May 2012, Beijing, China. pp.67-72, ⟨10.1049/cp.2012.0624⟩ Communication dans un congrès hal-00778767v1
Apport du microscope à force atomique pour l\'étude de certains phénomènes relatifs aux micro-contacts électriques M Vincent,S. W. Row,C Poulain,L Chiesi,Frédéric Houzéet al. Forum des Microscopies à Sonde Locale 2011, Mar 2011, Ecully, France. pp.88 Communication dans un congrès hal-00710617v1
Conductive-probe AFM characterization of graphene sheets chemically grafted on gold surfaces Fanny Hauquier,David Alamarguy,Laurent Baraton,P Viel,Sophie Noëlet al. GRAPHITA 2011, May 2011, Assergi-Ligano, Italy. pp.PB1 Communication dans un congrès hal-00710616v1
Optimisation de la mesure de capacité électrique locale absolue par AFM à sonde conductrice Ivan Estevez,Pascal Chrétien,Olivier Schneegans,Frédéric Houzé 14e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2011, Ecully, France. pp.87 Communication dans un congrès hal-00710620v1
Electrical conduction properties of molecular ultra-thin layers in a nanocontact Sophie Noël,David Alamarguy,Fanny Hauquier,Frédéric Houzé,P. Vielet al. 25th ICEC and 56th Holm Conference on Electrical Contacts, Oct 2010, Charleston, United States. pp.380-386 Communication dans un congrès hal-00554771v1
An original apparatus for endurance testing of MEMS electrical contact materials M. Vincent,L. Chiesi,P. Rousset,C. Lapierre,C. Poulainet al. 55th Holm Conference on Electrical Contacts, Sep 2009, Vancouver, Canada. pp. 285-289 Communication dans un congrès hal-00445399v1
Étude multi-échelle des mécanismes de transport dans des nanostructures à base de nanotubes de carbone J. Bai,Frédéric Houzé,Ahmed Mdarhri,David Alamarguy,Sophie Noëlet al. Colloque Carnot, Oct 2009, Paris, France. p. 9 Communication dans un congrès hal-00445401v1
Avancées successives sur la mesure de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice Pascal Chrétien,Olivier Schneegans,Frédéric Houzé Forum 2009 des microscopies à sonde locale, Mar 2009, Hardelot, France. pp. 94-95 Communication dans un congrès hal-00445404v1
Mesures de capacité absolue par AFM à pointe conductrice Ivan Estevez,Pascal Chrétien,Olivier Schneegans,Frédéric Houzé Forum 2009 des microscopies à sonde locale, Mar 2009, Hardelot, France. pp. 56-57 Communication dans un congrès hal-00445402v1
Mesures de capacité absolue par AFM à pointe conductrice: problématique et avancées récentes Ivan Estevez,Pascal Chrétien,Olivier Schneegans,Frédéric Houzé Journées du GDR Micro Nano Systèmes, Dec 2008, Montpellier, France Communication dans un congrès hal-00353331v1
Electrical contact reliability in a magnetic MEMS switch M. Vincent,L. Chiesi,J.-C. Fourrier,Aline Garnier,B. Grappeet al. 54th Holm Conference on Electrical Contacts, Oct 2008, Orlando, United States. pp.145 Communication dans un congrès hal-00351428v1
Contribution to the observation of the effective electrical contact area with the help of a space time resolved thermal camera Alexis Poizat,Michèle Nsoumbi,Philippe Testé,Frédéric Houzé,Richard Andlaueret al. 24 th Int. Conf. on Elec. Contacts ICEC 2008, Jun 2008, St Malo, France. pp.CD-ROM Proceedings Communication dans un congrès hal-00351387v1
The Resiscope module for DC conductivity measurements by AFM : an overview of performances and some various applications Pascal Chrétien,Ivan Estevez,Olivier Schneegans,Frédéric Houzé International SPM Usermeeting, May 2008, Barcelone, Spain. pp.CD-ROM Proceedings Communication dans un congrès hal-00351356v1
Resistance and contact force measurements on a miniature multi-contact stacking connector Patrice Retho,Alexis Poizat,Richard Andlauer,J.-S. Lefrileux,Frédéric Houzéet al. Journée 'La Connectique : état de l'art et perspectives' organisée par IMAPS-France, Oct 2008, La Défense, France Communication dans un congrès hal-00351432v1
Nanocomposite thin films for surface protection in electrical contact applications Sophie Noël,David Alamarguy,Frédéric Houzé,Alessandro Benedetto,P. Vielet al. 53rd IEEE Holm Conference, 2007, United States. pp.160-166 Communication dans un congrès hal-00320371v1
Tribological and electrical study of Fluorinated Diazonium Films as dry lubricants for electrical contacts David Alamarguy,Alessandro Benedetto,M. Balog,Sophie Noël,P. Vielet al. ECASIA 07, 12th European Conf. on Appl. Surf. and Interf. Anal., 2007, Belgium Communication dans un congrès hal-00320386v1
Local photoconductivity on Schottky diamond photodetectors measured by conducting probe atomic force microscopy José Alvarez,Frédéric Houzé,Pascal Chrétien,Jean-Paul Kleider,C. Bazinet al. Diamond' 2006 (17th European Conference on Diamond, Diamond-Like Materials, Carbon Nanotubes and Nitrides), 2006, Portugal Communication dans un congrès hal-00320301v1
Mesures de capacités plan/plan dans la gamme 1pF-1fF : mise en évidence des effets de bord, proposition d'un modèle et confrontation à des simulations numériques Olivier Schneegans,Frédéric Houzé,Pascal Chrétien Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d'AFM, 2006, France Communication dans un congrès hal-00320315v1
Films minces nanocomposites à base de nanotubes de carbone et polymères fluorés pour la lubrification des contacts électriques Alessandro Benedetto,David Alamarguy,N. Izard,P. Chenevier,P. Vielet al. Conférence Matériaux, 2006, France Communication dans un congrès hal-00320332v1
Local photoconductivity on diamond metal-semiconductor-metal photodetectors measured byconducting probe atomic force microscopy José Alvarez,Jean-Paul Kleider,Frédéric Houzé,M. Liao,Y. Koide 17th European Conference on Diamond, Diamond-Like Materials, Carbon Nanotubes, Nitrides & Silicon Carbide, Diamond 2006, 2006, Portugal Communication dans un congrès hal-00321918v1
Mesures locales de photoconductivité par AFM à pointe conductrice sur des dispositifs métal-semiconducteur-métal à base de diamant José Alvarez,Jean-Paul Kleider,Frédéric Houzé,Pascal Chrétien,M. Liaoet al. Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d'AFM, 2006, France Communication dans un congrès hal-00320320v1
Electrical characterization of Schottky diodes based on boron doped homoepitaxial diamond films by conducting probe atomic force microscopy José Alvarez,Frédéric Houzé,Jean-Paul Kleider,M. Liao,Y. Koide E-MRS 2006, 2006, France Communication dans un congrès hal-00320298v1
Carbon nanotubes/fluorinated polymers nanocomposite thin films for electrical contacts lubrication Alessandro Benedetto,P. Viel,Sophie Noël,Frédéric Houzé,Serge Palacin ECOSS'24 (24th European Conference on Surface Science), 2006, France Communication dans un congrès hal-00320312v1
Caractérisation de profils de dopage par imagerie de résistance locale à faible force Frédéric Houzé,D. Mariolle,F. Bertin,Pascal Chrétien,Olivier Schneegans 8ème Forum des Microscopies à Sonde Locale, 2005, France Communication dans un congrès hal-00320231v1
Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe AFM in contact mode Pascal Chrétien,Frédéric Houzé,Olivier Schneegans,René Meyer,Lionel Boyer Xtip'05, 2005, France Communication dans un congrès hal-00320256v1
Local electrical characterization of Schottky diodes on H-terminated diamond surfaces by conducting probe atomic force microscopy Frédéric Houzé,José Alvarez,Jean-Paul Kleider,P. Bergonzo,E. Snideroet al. Diamond 2005, 2005, France Communication dans un congrès hal-00321568v1
Local electrical characterization of Schottky diodes on H-terminated diamond surfaces by conducting probe atomic force microscopy Frédéric Houzé,José Alvarez,Jean-Paul Kleider,P. Bergonzo,E. Snideroet al. Diamond 2005, 2005, France Communication dans un congrès hal-00321705v1
Fabrication of high-Tc superconducting hot electron bolometers for terahertz mixer applications J.C. Villégier,Annick Dégardin,B. Guillet,Frédéric Houzé,Alain Kreisleret al. SPIE Optoeletronics 2005, 2005, United States Communication dans un congrès hal-00320229v1
Local electrical characterization of Schottky diodes on H-terminated diamond surfaces by conducting probe atomic force microscopy Frédéric Houzé,José Alvarez,Jean-Paul Kleider,P. Bergonzo,E. Snideroet al. Diamond' 2005 (16th European Conference on Diamond, Diamond-Like Materials, Carbon Nanotubes and Nitrides), 2005, France Communication dans un congrès hal-00320238v1
Simultaneous height, resistance and capacitance cartography of a SRAM test sample by conducting probe AFM Pascal Chrétien,Olivier Schneegans,Frédéric Houzé,René Meyer,Lionel Boyer Seing at the Nanoscale II, 2004, France Communication dans un congrès hal-00320180v1

Poster de conférence (11)

Calibrating resistance and current measurements in C-AFM : Development of universal standard samples François Piquemal,José A. Morán-Meza,Pascal Chrétien,Frédéric Houzé,Christian Ulysseet al. 25ème Forum des microscopies à sondes locales, Apr 2024, Lyon, France. Actes du 25ème Forum des microscopies à sondes locales (format pdf), 2024 Poster de conférence hal-04569986v1
A new set-up for the investigation of electrical and tribological properties of wire/ring sliding contacts Corentin Ferreira,Aurore Brézard-Oudot,Manon Isard,Sophie Noël,Frédéric Houzéet al. Wear of Materials, Apr 2023, Banff, Canada Poster de conférence hal-04121443v1
ELENA : a European project for electrical nanoscale metrology in industry François Piquemal,Johannes Hoffmann,Khaled Kaja,Brice Gautier,Andreas Hertwiget al. 24ème Forum des Microscopies à sonde locale, Apr 2023, Obernai (Alsace), France Poster de conférence hal-04128717v1
Surface charges effects in GaN NWs: influence on the electromechanical conversion properties Tanbir Sodhi,Pascal Chrétien,Laurent Couraud,J.-C. Harmand,François Henri Julienet al. International Workshop on Nitride Semiconductors, Oct 2022, Berlin (Germany), Germany Poster de conférence hal-04990340v1
Formation de matière sur des surfaces imagées par AFM en mode intermittent : un artefact inattendu Aymeric Vecchiola,Pascal Chrétien,Noelle Gogneau,Karim Bouzehouane,Olivier Schneeganset al. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. Actes du 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale Poster de conférence hal-01317764v1
GaN nanowires based piezogenerator Nicolas Jamond,Pascal Chrétien,Frédéric Houzé,Laurent Travers,Franck Glaset al. Nanowires 2015, Oct 2015, Barcelone, Spain. pp.110, Nanowires 2015 - Book of Abstracts - Poster Sessions Poster de conférence hal-01258198v1
Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent Aymeric Vecchiola,Pascal Chrétien,Olivier Schneegans,Frédéric Houzé,Karim Bouzehouaneet al. Journées Nationales Nanosciences et Nanotechnologies (J3N 2014), Nov 2014, Lyon, France Poster de conférence hal-01338861v1
Effect of the AlN interfacial layer on the piezoelectric properties of GaN nanowires Nicolas Jamond,Pascal Chrétien,L Largeau,Olivia Mauguin,Elisabeth Galopinet al. Réunion plénière des GDR PULSE (Processus ULtimes en épitaxie de SEmiconducteurs) et NNS (NanoFils, Nanotubes, Semiconducteurs), Oct 2014, Toulouse, France Poster de conférence hal-01338879v1
Caractérisations morphologique et électrique de graphène déposé par voie liquide Kevin Dalla-Francesca,Sophie Noël,Frédéric Houzé,David Alamarguy,Alexandre Jaffré 17e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2014, Montauban, France. Actes du 17e Forum des Microscopies à Sonde Locale, pp.140 - 141 Poster de conférence hal-01093610v1
Morphological and electrical characterizations of graphene exfoliated by liquid way Kevin Dalla-Francesca,Sophie Noël,Frédéric Houzé,David Alamarguy,Alexandre Jaffré Graphene Conference 2014, May 2014, Toulouse, France. Proceedings of the 4th edition of Graphene Conference Poster de conférence hal-01099345v1
Conducting probe atomic force microscope as a relevant tool for studying some phenomena in MEMS switches Alexis Peschot,Maxime Vincent,Christophe Poulain,Denis Mariolle,Frédéric Houzéet al. GreenBAN 2014, Nov 2014, Paris, France. Proceedings of the International Workshop on Green Solutions for Body Area Networks, pp.63 - 66 Poster de conférence hal-01099238v1

Chapitre d'ouvrage (1)

Improvement of electrical contacts reliability in a magnetic MEMS switch C. Poulain,M. Vincent,L. Chiesi,J. Delamarre,Frédéric Houzéet al. Failure analysis - A practical guide for manufacturers of electronic components and systems, John Wiley & Sons Ltd, pp.270-274, 2011 Chapitre d'ouvrage hal-00715286v1

Brevet (2)

Appareil de mesure de la résistance électrique locale d'une surface Olivier Schneegans,Pascal Chrétien,Frédéric Houzé N° de brevet: PCT/IB2011/051951. 2011 Brevet hal-00715270v1
Appareil de mesure de la résistance électrique locale d'une surface Olivier Schneegans,Pascal Chrétien,Frédéric Houzé France, N° de brevet: FR 10 01940. 2010 Brevet hal-00557019v1

Autre publication scientifique (3)

Transfert de savoir-faire pour la mise en forme, la fabrication et la mise sur le marché du Résiscope Pascal Chrétien,Frédéric Houzé,Olivier Schneegans 2007 Autre publication scientifique hal-00320405v1
Améliorations apportées au dispositif de mesure rapide de courant et de résistance électrique pouvant varier sur plusieurs décades Pascal Chrétien,Frédéric Houzé,Olivier Schneegans,René Meyer,Lionel Boyer 2006 Autre publication scientifique hal-00320345v1
Réduction de l'inductance propre d'une boucle conductrice, application à la réalisation de contacts pour interposeurs René Meyer,Frédéric Houzé,Philippe Testé 2005 Autre publication scientifique hal-00320266v1