Ghislain Oudinet

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Article dans une revue (1)

Non Destructive Diagnostic Measurement Methods for HF RFID Devices With AI Assistance Thibaut Deleruyelle,Amaury Auguste,Florian Sananes,Ghislain Oudinet IEEE Open Journal of Instrumentation and Measurement, 2023, pp.1-1. ⟨10.1109/OJIM.2023.3335537⟩ Article dans une revue hal-04415325v1