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Jonathan Houard
Ingénieur de recherche au CNRS
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Documents
Identifiants chercheurs
- jonathan-houard
- ResearcherId : B-9398-2014
- 0000-0001-7244-205X
- Google Scholar : https://scholar.google.fr/citations?hl=fr&user=r7-0DuUAAAAJ&view_op=list_works
- IdRef : 156842998
- ResearcherId : http://www.researcherid.com/rid/B-9398-2014
Présentation
Publications
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Caractérisation de nanofils de Si par sonde atomique tomographique10èmes Journées de la Matière Condensée, 2006, Toulouse, France
Communication dans un congrès
hal-00243976v1
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Nanofils de Si et sonde atomique tomographiqueJournées du GDR Nanofils Nanotubes Semiconducteurs, 2006, Villeneuve d'Ascq, France
Communication dans un congrès
hal-00243974v1
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