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pascal dherbecourt

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Documents

Présentation

**Pascal Dherbécourt**, **Professeur des universités** **Section CNU 63 (*Génie électrique, électronique, photonique et systèmes)*** - **Adresse professionnelle :** - **Groupe de Physique des Matériaux - UMR CNRS 6634** - Avenue de l’Université BP 76801 Saint Etienne du Rouvray Cedex - Tel : 02 32 95 51 57 - Email : <pascal.dherbecourt@univ-rouen.fr> **Université de Rouen - IUT – Département Génie Electrique et Informatique Industrielle** - 76821 Mont Saint Aignan Cedex Tel : 02 35 14 63 54 **Septembre 2014 : Habilitation à Diriger des Recherches** Soutenue le 4 septembre 2014 au GPM Université de Rouen Normandie : **« Performances et fiabilité des systèmes: Des télécommunications optiques aux composants électroniques de puissance »** **Juin 2002 : Doctorat en physique** à l’université de Rouen. Thèse soutenue le 21 juin 2002, portant sur **« *l’étude et réalisation d’un générateur d’onde optique modulée en amplitude à très haute fréquence »*.** Application à la caractérisation spectrale des sources lasers et des photorécepteurs rapides type PIN pour les systèmes de télécommunications sur fibres optiques à très haut débit. **Distinction honorifique :** Chevalier dans l’Ordre des Palmes Académiques promotion juillet 2009.

Publications

moncef-kadi

A novel methodology to characterize LGA packaged GaN power transistors using a mother/daughter board configuration for the reliability qualification in the mild hybrid applications

Chawki Douzi , Moncef Kadi , Moncef Kadi , Pascal Dherbécourt , Mohamed Akram Besserour
Microelectronics Reliability, 2022, 138, pp.114777. ⟨10.1016/j.microrel.2022.114777⟩
Article dans une revue hal-03882052v1

PHM method for detecting degradation of GaN HEMT ON resistance, application to power converter

H. Boulzazen , Chawki Douzi , Eric Joubert , Pascal Dherbécourt , Moncef Kadi
e-Prime – Advances in Electrical Engineering, Electronics and Energy, 2022, 2, pp.100060. ⟨10.1016/j.prime.2022.100060⟩
Article dans une revue hal-03872112v1

Experimental and microscopic analysis of 600V GaN-GIT under the short-circuit aging tests

Jian Zhi Fu , François Fouquet , Moncef Kadi , Pascal Dherbécourt , Fabien Cuvilly
International Journal of Information Science & Technology, 2019
Article dans une revue hal-02295904v1

Failure investigation of packaged SiC-diodes after thermal storage in extreme operating condition

O. Latry , Pascal Dherbécourt , Patrick Denis , Fabien Cuvilly , Moncef Kadi
Engineering Failure Analysis, 2018, 83, pp.185-192. ⟨10.1016/J.ENGFAILANAL.2017.09.010⟩
Article dans une revue hal-02131204v1

Evolution of C-V and I-V characteristics for a commercial 600 V GaN GIT power device under repetitive short-circuit tests

J.Z. Fu , F. Fouquet , M. Kadi , Pascal Dherbécourt
Microelectronics Reliability, 2018, 88-90, pp.652-655. ⟨10.1016/j.microrel.2018.06.034⟩
Article dans une revue hal-02181673v1

Robustness of 4H-SiC 1200V Schottky diodes under high electrostatic discharge like human body model stresses : An in-depth failure analysis

P. Denis , Pascal Dherbécourt , O. Latry , C. Genevois , Fabien Cuvilly
Diamond and Related Materials, 2014, 44, pp.62-70. ⟨10.1016/j.diamond.2014.02.002⟩
Article dans une revue hal-02156382v1

Experimental study of 600V GaN transistor under the short-circuit aging tests

J-Z. Fu , F. Fouquet , M. Kadi , Pascal Dherbécourt
2018 19th IEEE Mediterranean Electrotechnical Conference (MELECON), May 2018, Marrakech, France. pp.249-253, ⟨10.1109/MELCON.2018.8379102⟩
Communication dans un congrès hal-02181678v1

Aging of GaN GIT under repetitive short-circuit tests

J-Z. Fu , F. Fouquet , Moncef Kadi , Pascal Dherbécourt
2018 1st Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in Asia (WiPDA Asia), May 2018, Xi'an, China. pp.189-193, ⟨10.1109/WiPDAAsia.2018.8734539⟩
Communication dans un congrès hal-02306848v1

Behavoir study of a 600v gan transistor under short-circuit experimental test

Jian Zhi Fu , Francois Fouquet , Moncef Kadi , Pascal Dherbécourt
TELECOM 2017 et 10ème JFMMA, May 2017, Rabat, Morocco
Communication dans un congrès hal-02310344v1