Paul GRANDAMME

Identifiants chercheurs

IdHAL :

paul-grandamme

ORCID :

0009-0000-4373-2429

Publications

Poster de conférence (2)

Fault injection attacks on unpowered devices Paul Grandamme,Lilian Bossuet,Jean-Max Dutertre Workshop on Practical Hardware Innovations in Security Implementation and Characterization (PHISIC), May 2025, Gardanne, France Poster de conférence hal-05082401v1
Éteindre votre composant électronique ne le protège pas ! Paul Grandamme,Lilian Bossuet,Jean-Max Dutertre JAIF 2024 - Journée thématique sur les attaques par injection de fautes, Oct 2024, Rennes, France Poster de conférence hal-04935027v1

Communication dans un congrès (7)

X-Ray Fault Injection Localization with a Shield on Powered and Unpowered Devices P Grandamme,Stephanie Anceau,Nathalie Bochard,Luc Salvo,Lilian Bossuetet al. 2025 IEEE Physical Assurance and Inspection of Electronics (PAINE 2025), Oct 2025, Denver, CO, United States Communication dans un congrès hal-05282404v1
Éteindre votre composant électronique ne le protège pas ! Paul Grandamme,Lilian Bossuet,Jean-Max Dutertre JAIF 2024 - Journée thématique sur les attaques par injection de fautes, Oct 2024, Rennes, France Communication dans un congrès hal-04934946v1
Laser Fault Injection on power off devices Paul Grandamme,Lilian Bossuet,Jean-Max Dutertre RADLAS 2024 : 6th Workshop on Laser Testing of Radiation Effects on Components and Systems, Sep 2024, Noordwijk, Netherlands Communication dans un congrès hal-04935042v1
X-Ray Fault Injection in non-volatile memories of Power Off Devices Paul Grandamme,Lilian Bossuet,Jean-Max Dutertre JAIF 2024 - Journée thématique sur les attaques par injection de fautes, Sep 2023, Gardanne, France Communication dans un congrès hal-04935001v1
X-Ray Fault Injection in Non-Volatile Memories on Power OFF Devices Paul Grandamme,Lilian Bossuet,Jean-Max Dutertre 2023 IEEE Physical Assurance and Inspection of Electronics (PAINE), Oct 2023, Huntsville, United States. pp.1-7, ⟨10.1109/PAINE58317.2023.10318018⟩ Communication dans un congrès hal-04500202v1
X-Ray Fault Injection on Power OFF devices Paul Grandamme,Lilian Bossuet,Jean-Max Dutertre Cryptographic architectures embedded in logic devices, Jun 2023, Castro Urdiales, Spain Communication dans un congrès ujm-04220162v1
Multi-spot Laser Fault Injection Setup: New Possibilities for Fault Injection Attacks Brice Colombier,Paul Grandamme,Julien Vernay,Emilie Chanavat,Lilian Bossuetet al. 20th Smart Card Research and Advanced Application Conference - CARDIS 2021, Nov 2021, Lübeck, Germany. pp.151-166, ⟨10.1007/978-3-030-97348-3_9⟩ Communication dans un congrès hal-03353863v1

Thèse (1)

Techniques avancées d'attaques par injection de fautes sur circuits intégrés Paul Grandamme Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université Jean Monnet (Saint-Etienne), 2025. Français. ⟨NNT : 2025STET0011⟩ Thèse tel-05082512v1

Article dans une revue (1)

Switching Off your Device Does Not Protect Against Fault Attacks Paul Grandamme,Pierre-Antoine Tissot,Lilian Bossuet,Jean-Max Dutertre,Brice Colombieret al. IACR Transactions on Cryptographic Hardware and Embedded Systems, 2024, 2024 (4), pp.425-450. ⟨10.46586/tches.v2024.i4.425-450⟩ Article dans une revue hal-04642748v1