Régis Carin

Publications

Article dans une revue (18)

Low frequency noise assessment in n- and p-channel sub-10nm triple-gate FinFETs: Part I: Theory and methodology D. Boudier,B. Cretu,E. Simoen,Régis Carin,A. Velosoet al. Solid-State Electronics, 2017, 128, pp.102 - 108. ⟨10.1016/j.sse.2016.10.012⟩ Article dans une revue istex hal-01712351v1
Low frequency noise assessment in n- and p-channel sub-10nm triple-gate FinFETs: Part II: Measurements and results D. Boudier,B. Cretu,E. Simoen,Régis Carin,A. Velosoet al. Solid-State Electronics, 2017, 128, pp.109 - 114. ⟨10.1016/j.sse.2016.10.013⟩ Article dans une revue istex hal-01712353v1
Low-frequency noise spectroscopy of bulk and border traps in nanoscale devices E. Simoen,Bogdan Cretu,W Fang,M. Aoulaiche,Jean-Marc Routoureet al. Solid State Phenomena, 2016, 242, pp.449. ⟨10.4028/www.scientific.net/SSP.242.449⟩ Article dans une revue hal-01196556v1
(Invited) Generation-Recombination Noise in Advanced CMOS Devices E. Simoen,A. Oliveira,D. Boudier,J. Mitard,L. Witterset al. ECS Transactions, 2016, 75 (5), pp.111 - 120. ⟨10.1149/07505.0111ecst⟩ Article dans une revue hal-01712452v1
Towards single-trap spectroscopy : Generation-recombination noise in UTBOX SOI nMOSFETs Eddy Simoen,Bogdan Cretu,Wen Fang,M. Aoulaiche,Jean-Marc Routoureet al. Physica Status Solidi C: Current Topics in Solid State Physics, 2015, 7 p. ⟨10.1002/pssc.201400075⟩ Article dans une revue hal-01196247v1
Identification of Si film traps in p-channel SOI FinFETs using low temperature noise spectroscopy Hakim Hachour,Bogdan Cretu,Jean-Marc Routoure,Régis Carin,A. Benfdilaet al. Solid-State Electronics, 2015, 112, pp.1-6. ⟨10.1016/j.sse.2015.02.014⟩ Article dans une revue hal-01196272v1
In depth static and low-frequency noise characterization of n-channel FinFETs on SOI substrates at cryogenic temperature H. Achour,Bogdan Cretu,Jean-Marc Routoure,Régis Carin,Rachida Talmatet al. Solid-State Electronics, 2014, 8 p Article dans une revue hal-00994380v1
Low-frequency noise assessment in advanced UTBOX SOI nMOSFETs with different gate dielectrics S.D. dos Santos,Bogdan Cretu,V. Strobel,Jean-Marc Routoure,Régis Carinet al. Solid-State Electronics, 2014, 9 p. ⟨10.1016/j.sse.2014.04.034⟩ Article dans une revue hal-00994378v1
Low-frequency noise studies on fully depleted UTBOX silicon-on-insulator nMOSFETs: challenges and opportunities Eddy Simoen,M. Aoulaiche,S.D. dos Santos,J.A. Martino,V. Strobelet al. ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2013, pp.q205-q210. ⟨10.1149/2.011311jss⟩ Article dans une revue hal-00994293v1
Lessons Learned from Low-Frequency Noise Studies on Fully Depleted UTBOX Silicon-on-Insulator nMOSFETs E. Simoen,M. Aoulaiche,S.D. dos Santos,J.A. Martino,V. Strobelet al. ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2013, pp.q205-q210 Article dans une revue hal-00994168v1
DC and low frequency noise performances of SOI p-FinFETs at very low temperature H. Achour,Rachida Talmat,Bogdan Cretu,Jean-Marc Routoure,A. Benfdilaet al. Solid-State Electronics, 2013, 90, pp.160-165. ⟨10.1016/j.sse.2013.06.006⟩ Article dans une revue hal-00994180v1
Low frequency noise characterization in n-channel FinFETs Rachida Talmat,H. Achour,Bogdan Cretu,Jean-Marc Routoure,A. Benfdilaet al. Solid-State Electronics, 2012, p20-26 Article dans une revue hal-00994184v1
Meyer-Neldel parameter as a figure of merit for quality of thin film transistor active layer? Laurent Pichon,A. Mercha,Jean-Marc Routoure,Régis Carin,Tayeb Mohammed-Brahimet al. Thin Solid Films, 2003, 427, pp.350-354 Article dans une revue hal-00913090v1
Comparison of the electrical behavior in the subthreshold region between laser and solid state phase crystallized polysilicon thin film transistors Laurent Pichon,A. Mercha,Régis Carin,Tayeb Mohammed-Brahim,Olivier Bonnaudet al. Solid-State Electronics, 2002, 46, pp.459-466 Article dans une revue hal-00936100v1
Current crowding and 1/f noise in polycrystalline silicon thin film transistors A. Mercha,L. K. J. Vandamme,O. Bonnaud,Régis Carin,Laurent Pichon Journal of Applied Physics, 2001, 90 (8), pp.4019. ⟨10.1063/1.1404418⟩ Article dans une revue hal-00995014v1
Analysis of the activation energy of the subthreshold current in laser- and solid-phase-crystallized polycrystalline silicon thin-film transistors Laurent Pichon,Abdelkarim Mercha,Régis Carin,Olivier Bonnaud,Mohammed-Brahim Tayebet al. Applied Physics Letters, 2000, 77 (4), pp.576. ⟨10.1063/1.127049⟩ Article dans une revue hal-00995045v1
Swift Heavy Ion Induced Defect Study in Epitaxial n-Type CaAs from ${\it In}$ ${\it Situ}$ Hall Effect Measurements M. Mikou,Régis Carin,P. Bogdanski,P. Marie Journal de Physique III, 1997, 7 (8), pp.1661-1676. ⟨10.1051/jp3:1997216⟩ Article dans une revue istex jpa-00249672v1
Qualité diélectrique de couches minces isolantes de GaN obtenues par pulvérisation cathodique réactive Régis Carin Revue de Physique Appliquée, 1990, 25 (6), pp.489-497. ⟨10.1051/rphysap:01990002506048900⟩ Article dans une revue istex jpa-00246211v1

Communication dans un congrès (24)

Armand FREMONT: un universitaire attaché à toutes les missions de l'enseignant-chercheur, du syndicalisme à la gestion des universités Régis Carin Colloque Armand Fremont - Un géographe dans le siècle, Université de Caen, Jun 2022, Caen, France Communication dans un congrès hal-03922960v1
Low frequency noise assessment in n- and p-channel sub-10 nm triple-gate FinFETs Dimitri Boudier,B Cretu,Eddy Simoen,Régis Carin,Anabela Velosoet al. Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), Jan 2016, Vienna, Austria Communication dans un congrès hal-02877229v1
Low frequency noise spectroscopy in rotated UTBOX nMOSFETs Bogdan Cretu,E. Simoen,Jean-Marc Routoure,Régis Carin,M. Aoulaicheet al. ICNF’2015 (International Conference on Noise and Fluctuations), Jun 2015, Xi’An, China. ⟨10.1109/ICNF.2015.7288588⟩ Communication dans un congrès hal-01196552v1
Static and low frequency noise characterization in standard and rotated UTBOX nMOSFETs Bogdan Cretu,E. Simoen,Jean-Marc Routoure,Régis Carin,M. Aoulaicheet al. EUROSOI-ULIS’2015 Conference, Jan 2015, Bologne, Italy. ⟨10.1109/ULIS.2015.7063817⟩ Communication dans un congrès hal-01196423v1
Low temperature noise spectroscopy of p-channel SOI FinFETs H. Achour,Bogdan Cretu,E. Simoen,Jean-Marc Routoure,Régis Carinet al. 10th Workshop of the Thematic Network on SOI Technology, Devices and Circuits, Jan 2014, tarragona, Spain. 2 p. in USB Key Communication dans un congrès hal-00994397v1
Performances under saturation operation of p channel FinFETs on SOI substrates at cryogenic temperature Hakim Hachour,Bogdan Cretu,Jean-Marc Routoure,Régis Carin,A. Benfdilaet al. IEEE/CAS’2014, 2014, Sinaia, Romania. pp181-184, ⟨10.1109/SMICND.2014.6966429⟩ Communication dans un congrès hal-01196289v1
Low frequency noise assessment in advanced UTBOX SOI n-channel MOSFETs V. Strobel,Bogdan Cretu,S.D. dos Santos,E. Simoen,Jean-Marc Routoureet al. 9th Workshop of the Thematic Network on SOI Technology, Devices and Circuits, Jan 2013, paris, France. 2 p. (CDROM) Communication dans un congrès hal-00994155v1
Low-Frequency Noise in High-K and SiO2 UTBOX SOI nMOSFETS S.D. dos Santos,J.A. Martino,V. Strobel,Bogdan Cretu,Jean-Marc Routoureet al. China Semiconductor Technology International Conference, Mar 2013, shangai, China. pp.87-92 Communication dans un congrès hal-00994161v1
Low-frequency noise for different gate dielectrics on state-of-the-art UTBOX SOI nMOSFETs S.D. dos Santos,E. Simoen,V. Strobel,Bogdan Cretu,Jean-Marc Routoureet al. 9th Workshop of the Thematic Network on SOI Technology, Devices and Circuits, Jan 2013, Paris, France. 2 p. (CDROM) Communication dans un congrès hal-00994159v1
Detailled characterisation of SOI n-FinFETs at very low temperature H. Achour,Bogdan Cretu,Jean-Marc Routoure,Régis Carin,Rachida Talmatet al. International Conference on Ultimate Integration on Silicon (ULIS), Mar 2013, Coventry, United Kingdom. 4 p Communication dans un congrès hal-00994224v1
Low frequency noise as diagnostic tools in sub-22nm MOSFET transistors Bogdan Cretu,Jean-Marc Routoure,Régis Carin,E. Simoen,C. Claeys Workshop " Oxydes Fonctionnels pour l'Intégration en Micro- et Nano-électronique ", Apr 2013, Autrans, France Communication dans un congrès hal-00994411v1
Low frequency noise characterization in n-channel UTBOX devices with 6 nm Si film Bogdan Cretu,Eddy Simoen,Jean-Marc Routoure,Régis Carin,M. Aoulaicheet al. The International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF), 2013, Montpellier, France. 4 p Communication dans un congrès hal-00994170v1
Bruit basse fréquence dans les transistors ultrafins totalement déplétés sur substrat SOI V. Strobel,Bogdan Cretu,Jean-Marc Routoure,E. Simoen,C. Claeyset al. 13èmes Journées de la Matière Condensée, Aug 2012, Montpellier, France Communication dans un congrès hal-00994405v1
On the Variability and Front-Back Coupling of the Low-frequency Noise in UTBOX SOI nMOSFETs S.D. dos Santos,E. Simoen,V. Strobel,Bogdan Cretu,Jean-Marc Routoureet al. IEEE 11th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology, Oct 2012, xian, China. 3 p Communication dans un congrès hal-00994176v1
DC and noise performances of SOI FinFETs at very low temperature H. Achour,Rachida Talmat,Bogdan Cretu,Jean-Marc Routoure,A. Benfdilaet al. 8th Workshop of the Thematic Network on SOI Technology, Devices and Circuits, Jan 2012, Montpellier, France. 2p Communication dans un congrès hal-00994391v1
Assessment of temperature dependence of the low frequency noise in unstrained and strained FinF Rachida Talmat,H. Achour,Bogdan Cretu,Jean-Marc Routoure,A. Benfdilaet al. International Conference on Future Networks (ICFN ), Jun 2011, toronto, Canada. pp135-138 Communication dans un congrès hal-00994151v1
Réflexions sur une électronique analogique de courant : super transistor OPA86X et amplificateur direct à transimpédance à base de GMR Maria Timofeeva,Gilles Allègre,Stéphane Flament,Julien Gasnier,Régis Carinet al. Colloque sur l'Enseignement des Technologies et des Sciences de l'Information et des Systèmes, Oct 2011, Trois-Rivières, Quebec, Canada. 6 p Communication dans un congrès hal-00994384v1
Low Frequency Noise Spectroscopy in Advanced nFinFETS Rachida Talmat,H. Achour,Bogdan Cretu,Jean-Marc Routoure,A. Benfdilaet al. Seventh Workshop of the Thematic Network on Silicon on Insulator technology, devices and circuits, Jan 2011, Grenade, Spain. pp55-56 Communication dans un congrès hal-00994154v1
Low-frequency noise behavior in P-channel SOI FinFETs processed with different strain techniques Wei Guo,Rachida Talmat,Bogdan Cretu,Jean-Marc Routoure,Régis Carinet al. 20th International Conference on Noise and Fluctuations, Jun 2009, Pista, Italy. p.295-298 Communication dans un congrès hal-00993748v1
Unusual noise behavior versus temperature in nFinFETs on silicon on insulator (SOI) substrates processed with different strain techniques Wei Guo,Jean-Marc Routoure,Bogdan Cretu,Régis Carin EUROSOI 2008 CONFERENCE PROCEEDINGS FOURTH WORKSHOP OF THE THEMATIC NETWORK ON SILICON-ON-INSULATOR TECHNOLOGY, 2008, dublin, Ireland Communication dans un congrès hal-00259455v1
Apparent noise parameter behavior in n-MOS transistors operating from subthreshold to above-threshold regions Abdelmalek Boukhenoufa,Laurent Pichon,Christophe Cordier,Bogdan Cretu,Lehui Dinget al. Proceedings of the 18th International Conference on noise in Physical Systems and 1/f Fluctuation ; ICNF 2005 ; CP780 Noise and Fluctuations, Sep 2005, Salamanca, Spain. pp.319-322 Communication dans un congrès hal-00773430v1
Conduction and Low-Frequency noise : diagnostic tools for low-temperature (£ 600=B0C) polysilicon thin film transistor technology Laurent Pichon,A. Mercha,Olivier Bonnaud,Régis Carin Invited Conference; ElectroChem. Soc. TFTTVI, Oct 2002, Salt Lake City, United States. pp.246-256 Communication dans un congrès hal-00936192v1
Meyer-Neldel parameter as a figure of merit for quality of thin film transistor active layer Laurent Pichon,A. Mercha,Jean-Marc Routoure,Régis Carin,Tayeb Mohammed-Brahimet al. E-MRS 2002, Spring Meeting Poster, Jun 2002, Strasbourg, France Communication dans un congrès hal-00958688v1
Caractérisation en température de semi-conducteurs et mise en oeuvre d'un thermomètre analogique Laurent Pichon,Régis Carin,Didier Robbes CETSIS-EEA 2001, Oct 2001, Clermont-Ferrand, France. pp.273-276 Communication dans un congrès hal-00994996v1

Ouvrages (1)

La science sur un plateau. Au nord de Caen, un demi-siècle de développement (1967-2017) Josette Travert,Dominique Toulorge,Régis Carin,Eugene Dubois,Lionel Dupretet al. J. Travert, D. Toulorge, R. Carin. Presses Universitaires de Caen, 2018, 978-2-84133-888-7 Ouvrages hal-02132809v1

Chapitre d'ouvrage (1)

Un universitaire attaché à toutes les missions de l'enseignant-chercheur, du syndicalisme à la gestion des universités Régis Carin Un géographe dans le siècle - Hommage à Armand Frémont, pp.277-280, 2022, 979-10-91823-05-0 Chapitre d'ouvrage hal-03922926v1