René DAVID

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Publications

Un duo grenoblois gagnant? L’intersection de l’Automatique et de l’Informatique

René M. G. David , Philippe Denoyelle , Luc Dugard , Jonathan Dumon , Alphonse Franco et al.

Patrimoine UGA Hors Murs, Nov 2021, Grenoble, France

Communication dans un congrès hal-03424497v1

On Using Efficient Test Sequences for BIST

René M. G. David , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch , Arnaud Virazel

VTS: VLSI Test Symposium, 2002, Monterey, CA, United States. pp.145-150

Communication dans un congrès lirmm-00268499v1
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Test Intégré de Circuits Digitaux : Comparaison de deux types de Séquences de Test

Arnaud Virazel , René M. G. David , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch

Journées des Doctorants, École Doctorale I2S, 2001, Montpellier, France. pp.158-160

Communication dans un congrès lirmm-00345806v1

On Hardware Generation of Random Single Input Change Test

René M. G. David , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch , Arnaud Virazel

ETW: European Test Workshop, May 2001, Saltsjöbaden, Sweden. pp.117-123

Communication dans un congrès lirmm-00345801v1
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Delay Fault Testing: Choosing Between Random SIC and Random MIC Test Sequences

Arnaud Virazel , René M. G. David , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch

ETW: European Test Workshop, May 2000, Cascais, Portugal. pp.09-14, ⟨10.1109/ETW.2000.873772⟩

Communication dans un congrès lirmm-00345799v1
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Test Intégré de Circuits Digitaux : Etude Comparative de l'Efficacité de deux types de Séquences de Test

Arnaud Virazel , René M. G. David , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch

JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, LIRMM; CEM2, May 2000, Montpellier, France. pp.86-87

Communication dans un congrès lirmm-00345804v1

A history of research in fault tolerant computing at the Grenoble University

René M. G. David , B. Courtois , G. Saucier

Evolution-of-Fault-Tolerant-Computing.-In-the-Honor-of-William-C.-Carter, 1987, Baden, Austria. pp.337-53

Communication dans un congrès hal-00013405v1

Random testing versus deterministic testing of RAMs

A. Fuentes , René M. G. David , B. Courtois

FTCS-Digest-of-Papers.-16th-Annual-International-Symposium-on-Fault-Tolerant-Computing-Systems-Cat.-No.86CH2335-8, 1986, Vienna, Austria. pp.266-71

Communication dans un congrès hal-00013446v1
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Random Adjacent Sequences: An Efficient Solution for Logic BIST

René M. G. David , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch , Arnaud Virazel

SOC Design Methodologies, 90, Kluwer, pp.413-424, 2002, IFIP — The International Federation for Information Processing, 978-1-4757-6530-4. ⟨10.1007/978-0-387-35597-9_35⟩

Chapitre d'ouvrage lirmm-00345802v1
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Le système IRIS

René M. G. David

2021, pp.140

Autre publication scientifique hal-03360648v1