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Mounira Bouarroudj
Maître de conférences à l'UPEC et rattachée au laboratoire SATIE
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Publications
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A study of the effect of degradation of the aluminium metallization layer in the case of power semiconductor devicesMicroelectronics Reliability, 2011, 51 (9-11), pp.1824 - 1829. ⟨10.1016/j.microrel.2011.06.009⟩
Article dans une revue
hal-01636559v1
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