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Patrick Girard

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rene-david-38

On Using Efficient Test Sequences for BIST

René M. G. David , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch , Arnaud Virazel
VTS: VLSI Test Symposium, 2002, Monterey, CA, United States. pp.145-150
Communication dans un congrès lirmm-00268499v1
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Test Intégré de Circuits Digitaux : Comparaison de deux types de Séquences de Test

Arnaud Virazel , René M. G. David , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch
Journées des Doctorants, École Doctorale I2S, 2001, Montpellier, France. pp.158-160
Communication dans un congrès lirmm-00345806v1

On Hardware Generation of Random Single Input Change Test

René M. G. David , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch , Arnaud Virazel
ETW: European Test Workshop, May 2001, Saltsjöbaden, Sweden. pp.117-123
Communication dans un congrès lirmm-00345801v1
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Delay Fault Testing: Choosing Between Random SIC and Random MIC Test Sequences

Arnaud Virazel , René M. G. David , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch
ETW: European Test Workshop, May 2000, Cascais, Portugal. pp.09-14, ⟨10.1109/ETW.2000.873772⟩
Communication dans un congrès lirmm-00345799v1
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Test Intégré de Circuits Digitaux : Etude Comparative de l'Efficacité de deux types de Séquences de Test

Arnaud Virazel , René M. G. David , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch
JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, LIRMM; CEM2, May 2000, Montpellier, France. pp.86-87
Communication dans un congrès lirmm-00345804v1
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Random Adjacent Sequences: An Efficient Solution for Logic BIST

René M. G. David , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch , Arnaud Virazel
SOC Design Methodologies, 90, Kluwer, pp.413-424, 2002, IFIP — The International Federation for Information Processing, 978-1-4757-6530-4. ⟨10.1007/978-0-387-35597-9_35⟩
Chapitre d'ouvrage lirmm-00345802v1