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Surveillance en temps réel et à haute précision de la tension de seuil de grille (VGSTH ) du MOSFET SiC sur bras d'onduleur MLI par l'insertion d'une commutation "spéciale" contrôlée par une architecture de gate-driver parallèle
Frédéric Richardeau
,
Mathis Picot-Digoix
,
Sébastien Vinnac
,
Jean-Marc Blaquière
,
Stéphane Azzopardi
et al.
Symposium de Génie Electrique (SGE 2025), Jul 2025, Toulouse, France
Communication dans un congrès
hal-05248644
v1
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CMOS gate driver with fully integrated fast and robust gate monitoring solution for a full short-circuit protection of sic half bridge power module
Anas El Boubkari
,
Nicolas C. Rouger
,
Frédéric Richardeau
,
Pierre Calmes
,
Matthew Bacchi
et al.
36th EUROPEAN SYMPOSIUM ON RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS, Université de Bordeaux, ADERA, Oct 2025, Bordeaux, France
Communication dans un congrès
hal-05308086
v2
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CMOS Modular Multilevel Active Gate Driver for SiC MOSFET
Tara Niakan
,
Nicolas C. Rouger
,
Yazan Barazi
,
Frédéric Richardeau
,
Sébastien Vinnac
et al.
Communication dans un congrès
hal-05384982
v1
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On-Line Digital Fine Monitoring of SiC MOSFET Gate-Oxide Health: A Dual-Channel Gate Driving Approach
Mathis Picot-Digoix
,
T-L Le
,
S. Azzopardi
,
Sébastien Vinnac
,
Frédéric Richardeau
et al.
Communication dans un congrès
hal-04647322
v2
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Low-Voltage Schottky p-GaN HEMT Properties under Extreme Repetitive Short-Circuit Operation Conditions : 2DEG Pinch-off, Stability, Aging, Robustness and Failure-Modes Analysis [Abstract]
Frédéric Richardeau
,
Lucien Ghizzo
,
David Trémouilles
,
Sébastien Vinnac
35th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - ESREF 2024, Sep 2024, Parma, Italy
Communication dans un congrès
hal-04713127
v1
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CMOS Gate Driver with Integrated Gate Current Monitoring Method for Fault Under Load Short Circuit Detection of SiC Power Modules
Anas El Boubkari
,
Nicolas Rouger
,
Frédéric Richardeau
,
Pierre Calmes
,
Matthew Bacchi
et al.
Communication dans un congrès
hal-04647315
v1
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Concept de grille quasi-flottante pour la protection d'un MOSFET SiC et la surveillance de l'intégrité de son oxyde basé sur une architecture de driver à résistances de grilles commutées
Mathis Picot-Digoix
,
Frédéric Richardeau
,
Wadia Jouha
,
Jean-Marc Blaquière
,
Sébastien Vinnac
et al.
Symposium de Génie Électrique, Jul 2023, Lille, France. 6 p
Communication dans un congrès
hal-04163149
v1
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Design and efficiency measurement of a sub-unit for a 20kW DC-DC multiphase power converter
Bastien Pasquet
,
Sébastien Vinnac
,
Jean-Marc Blaquière
,
Thierry Meynard
,
Sébastien Sanchez
2023 IEEE International Conference on Electrical Systems for Aircraft, Railway, Ship Propulsion and Road Vehicles & International Transportation Electrification Conference (ESARS-ITEC), Mar 2023, Venice, Italy. pp.1-6, ⟨10.1109/ESARS-ITEC57127.2023.10114845⟩
Communication dans un congrès
hal-04239643
v1
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Développement de fonctionnalités rapides, précises et intégrées CMOS, pour la commutation optimale et la protection interne des onduleurs à module SiC MOSFET
Anas Elboubkari
,
Matthieu Masson
,
Nicolas C. Rouger
,
Marc Cousineau
,
Frédéric Richardeau
et al.
SYMPOSIUM DE GENIE ELECTRIQUE (SGE 2023), Jul 2023, Lille, France
Communication dans un congrès
hal-04157854
v1
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Over-Voltage and Cross-Conduction Hard Switching Stress on Schottky Gate-Type p-GaN HEMT in Half-Bridge Operation Experimental and Physical Approaches [ESREF'23]
Lucien Ghizzo
,
David Trémouilles
,
Frédéric Richardeau
,
Sébastien Vinnac
,
François Jamin
et al.
Communication dans un congrès
hal-04252379
v1
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p-GaN HEMT Hard Switching Fault Type Short-Circuit Detection Based on the Gate Schottky-Barrier Leakage Current and Using a Dual-Channel Segmented CMOS buffer Gate-Driver
Yazan Barazi
,
Frédéric Richardeau
,
Sébastien Vinnac
,
Nicolas C. Rouger
35th IEEE International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD 2023), Hong Kong University of Science and Technology, May 2023, Hong Kong, China. ⟨10.1109/ISPSD57135.2023.10147669⟩
Communication dans un congrès
hal-04114246
v2
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SiC Power MOSFET Overload Detection, Short-Circuit Protection and Gate-Oxide Integrity Monitoring Using a Switched Resistors Dual-Channel Gate-Driver [ESREF'23]
Mathis Picot-Digoix
,
Frédéric Richardeau
,
Wadia Jouha
,
Jean-Marc Blaquière
,
Sébastien Vinnac
et al.
34th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2023), Oct 2023, Toulouse, France. ⟨10.1016/j.microrel.2023.115082⟩
Communication dans un congrès
hal-04252358
v1
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Protection rapide et robuste contre les courts-circuits internes de convertisseurs à base de MOSFETs SiC
Yazan Barazi
,
François Boige
,
Nicolas C. Rouger
,
Jean-Marc Blaquière
,
Sébastien Vinnac
et al.
SYMPOSIUM DE GENIE ELECTRIQUE (SGE 2021), 6 - 8 JUILLET 2021, NANTES, FRANCE, Jul 2021, Nantes, France
Communication dans un congrès
hal-03287704
v1
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Towards the implementation of diamond power devices in power converters and measurements of their switching losses
Nicolas C. Rouger
,
Damien Risaletto
,
Pierre Lefranc
,
Pierre-Olivier Jeannin
,
Hugo Cagnol
et al.
MRS Spring Meeting 2021, Apr 2021, Seattle WA, United States
Communication dans un congrès
hal-03289135
v1
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Sub-nanosecond delay CMOS Active Gate Driver for Closed-Loop dv/dt Control of GaN Transistors
Bau Plinio
,
Marc Cousineau
,
Bernardo Cogo
,
Frédéric Richardeau
,
Sébastien Vinnac
et al.
Communication dans un congrès
hal-02157332
v1
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Short-circuit robustness of parallel SiC MOSFETs and fail-safe mode strategy
François Boige
,
Asad Fayyaz
,
Alberto Castellazzi
,
Frédéric Richardeau
,
Sébastien Vinnac
European Power Elecrtonics and Applications 2019 - IEEE ECCE Europe, Sep 2019, Gênes, Italy
Communication dans un congrès
hal-02334405
v1
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First practical evaluation of a complete fail-safe and 100% fault-tolerant inverter for critical load in aerospace application
Frédéric Richardeau
,
Sébastien Vinnac
,
Franck Mosser
,
A. Rashed
,
A. Boetsch
et al.
8th International Conference on Recent Advances in Aerospace Actuation Systems and Components (R3ASC'18), 30 mai-1 juin 2018, Toulouse (FRANCE), 2018, Toulouse, France
Communication dans un congrès
hal-03937652
v1
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