
florent LOETE
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Documents
Publications
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Publications
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A wheel-rail electrical contact experiment at the laboratory scale4th International Railway Symposium Aachen (IRSA 2023), Nov 2023, Aachen (Aix la Chapelle), Germany
Communication dans un congrès
hal-04214192
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Machine learning applied to the analysis of the gait initiation process in Parkinson’s disease using Principal Component Analysis and bootstrapping37eme congres de la societe francaise de medecine physique et de réadaptation. SOFMER 2022, Dec 2022, Rennes, France
Communication dans un congrès
hal-04506629
v1
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Contactless conductivity measurement for ITO nanolayers on AsGa substrats over a wide frequency rangeIEEE SENSORS 2018, Oct 2018, New delhi, India. ⟨10.1109/icsens.2018.8589554⟩
Communication dans un congrès
hal-01943876
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Contactless Investigation of the p-Type Doping Concentration Level of Single Micrometric Size GaAs Crystals Grown on Silicon for Multijunction Solar Cells35th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition (EU-PVSEC), EU PVSEC, Sep 2018, Bruxelles, Belgium. pp.660 - 664, ⟨10.4229/35thEUPVSEC20182018-2AV.3.17⟩
Communication dans un congrès
hal-01936835
v1
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Étude expérimentale du contact électrique roue/railXIIIème Colloque sur les Arcs Electriques et Workshop Arcs et Contacts Electriques (CAE XIII ACE 2017), Mar 2017, Nancy, France
Communication dans un congrès
hal-01481567
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Modèle de réflectométrie en domaine temporel pour l’´etude des défauts non-francs9ème Conférence Européenne sur les Méthodes Numériques en Electromagnétisme (NUMELEC 2017), Nov 2017, Paris, France
Communication dans un congrès
hal-01689769
v1
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Model-Based Eddy Current Determination of the Electrical Conductivity of Semiconductors2016 IEEE Conference on Electromagnetic Field Computation (CEFC), Nov 2016, Miami, United States. ⟨10.1109/cefc.2016.7816375⟩
Communication dans un congrès
hal-01460536
v1
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Contactless device for the fast conductivity characterization of a large range semiconductorsInternational Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM 2016), Dec 2016, Tokyo, Japan. 4p., ⟨10.1109/issm.2016.7934522⟩
Communication dans un congrès
hal-01637727
v1
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Electrical tagging devices for the removal of fault location ambiguities by reflectometry in complex electrical networksIEEE SENSORS, Oct 2016, Orlando, FL, United States. ⟨10.1109/ICSENS.2016.7808646⟩
Communication dans un congrès
hal-01943914
v1
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Modélisation et analyse de défauts non francs dans le blindage des lignes coaxiales en vue du diagnostic18ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2016), Jul 2016, Rennes, France
Communication dans un congrès
hal-01388575
v1
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Experimental Analysis and Modelling of Coaxial Transmission Lines with Soft Shield DefectsJoint IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and EMC Europe, Aug 2015, Dresden, Germany. ⟨10.1109/ISEMC.2015.7256406⟩
Communication dans un congrès
hal-01235557
v1
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Time domain modeling of soft faults in wiring system by a nodal Discontinuous Galerkin Method with high-order hexahedral meshesCOMPUMAG 2015, Jun 2015, MONTREAL, Canada
Communication dans un congrès
hal-01236028
v1
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Modélisation et Analyse de Défauts Non-Francs dans les Lignes de Transmission en vue du Diagnostic19èmes Journées Nationales Micro-ondes (JNM 2015), Jun 2015, Bordeaux, France
Communication dans un congrès
hal-01235563
v1
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Experimental Evaluation of the Inverse Scattering Method for Electrical Cable Fault Diagnosis9th IFAC Symposium on Fault Detection, Supervision and Safety of Technical Processes (SAFEPROCESS), Sep 2015, Paris, France. ⟨10.1016/j.ifacol.2015.09.619⟩
Communication dans un congrès
hal-01232156
v1
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Electrical behaviour of the wheel-rail contactICEC 2012, May 2012, Beijing, China. pp.67-72
Communication dans un congrès
hal-00778767
v1
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Inverse Scattering Experiments for Electric Cable Soft Fault Diagnosis and Connector LocationPIERS Proceedings, Mar 2012, Kuala Lumpur, Malaysia. pp.1932-1936
Communication dans un congrès
hal-00776082
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Observation of Branly's effect during shunting experiments on scaled wheel-rail contacts9th International Conference on Contact Mechanics and Wear of Rail/Wheel Systems, Aug 2012, Chengdu, China. pp.111-114
Communication dans un congrès
hal-00778780
v1
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Diagnostic of Connector's Degradation Level by Frequency Domain ReflectometryHolm 2012, Sep 2012, Portland, United States. pp.101-104, ⟨10.1109/HOLM.2012.6336591⟩
Communication dans un congrès
hal-00778770
v1
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Essais de vieillissement par vibration de connecteurs pour la mécatroniqueJournée "La Connectique : état de l'art et perspectives", Dec 2010, Paris, France
Communication dans un congrès
hal-00806336
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Detection and Location of Defects in Wiring Networks using Time Domain Reflectometry and Neural Networks14th Biennial IEEE Conference on Electromagnetic Field Computation, May 2010, Chicago, États-Unis. pp.000
Communication dans un congrès
hal-00555222
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Feasability of the detection of vibration induced faults in connectors by reflectometry24 th Int. Conf. on Elec. Contacts ICEC 2008, Jun 2008, St Malo, France. pp.CD-ROM Proceedings
Communication dans un congrès
hal-00351379
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Analyse par photoluminescence du dopage résiduel dans un cristal unique de GaAs de taille micrométrique épitaxié sur silicium pour la réalisation de multijonctionsJournées Nationales du Photovoltaïque 2018 (JNPV 2018), Dec 2018, Dourdan, France
Poster de conférence
hal-01942352
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Tunable Eddy Current Device for the Contactless Characterization of a Large Variety of Semiconductor Materials2015 IEEE SENSORS, Nov 2015, Busan, South Korea. ⟨10.1109/ICSENS.2015.7370427⟩
Poster de conférence
hal-01246248
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Contactless measurement of the conductivity of semiconductors using a multicarrier frequency test signalUnited States, Patent n° : 10429435. 2019
Brevet
hal-02936877
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Method for marking bundles of power lines for diagnosis by reflectometry and corresponding kitUnited States, Patent n° : US20170153284. 2019
Brevet
hal-04558204
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MESURE SANS CONTACT DE LA CONDUCTIVITÉ DE SEMI-CONDUCTEURSFrance, N° de brevet: EP3283891. 2018
Brevet
hal-04558189
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Contactless measurement of the conductivity of semiconductors using a multicarrier frequency test signalÉtats-Unis, N° de brevet: US20180100887. 2018
Brevet
hal-04558180
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Mesure sans contact de la conductivité de semiconducteursFrance, N° de brevet: FR 1553392. 2015
Brevet
hal-01246254
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Procédé de marquage de faisceaux de lignes électriques pour le diagnostic par réflectométrie et kit correspondantFrance, N° de brevet: FR 1455748. LGEP 2014 ID = 1716. 2014
Brevet
hal-01092470
v1
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