
Frédéric Houzé
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Publications
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Calibrating resistance and current measurements in C-AFM : Development of universal standard samples25ème Forum des microscopies à sondes locales, Apr 2024, Lyon, France. Actes du 25ème Forum des microscopies à sondes locales (format pdf), 2024
Poster de conférence
hal-04569986
v1
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A new set-up for the investigation of electrical and tribological properties of wire/ring sliding contactsWear of Materials, Apr 2023, Banff, Canada
Poster de conférence
hal-04121443
v1
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ELENA : a European project for electrical nanoscale metrology in industry24ème Forum des Microscopies à sonde locale, Apr 2023, Obernai (Alsace), France
Poster de conférence
hal-04128717
v1
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Surface charges effects in GaN NWs: influence on the electromechanical conversion propertiesInternational Workshop on Nitride Semiconductors, Oct 2022, Berlin (Germany), Germany
Poster de conférence
hal-04990340
v1
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Formation de matière sur des surfaces imagées par AFM en mode intermittent : un artefact inattendu19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. Actes du 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale
Poster de conférence
hal-01317764
v1
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GaN nanowires based piezogeneratorNanowires 2015, Oct 2015, Barcelone, Spain. pp.110, Nanowires 2015 - Book of Abstracts - Poster Sessions
Poster de conférence
hal-01258198
v1
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Mesures électriques locales par AFM en mode intermittentJournées Nationales Nanosciences et Nanotechnologies (J3N 2014), Nov 2014, Lyon, France
Poster de conférence
hal-01338861
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Effect of the AlN interfacial layer on the piezoelectric properties of GaN nanowiresRéunion plénière des GDR PULSE (Processus ULtimes en épitaxie de SEmiconducteurs) et NNS (NanoFils, Nanotubes, Semiconducteurs), Oct 2014, Toulouse, France
Poster de conférence
hal-01338879
v1
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Caractérisations morphologique et électrique de graphène déposé par voie liquide17e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2014, Montauban, France. Actes du 17e Forum des Microscopies à Sonde Locale, pp.140 - 141
Poster de conférence
hal-01093610
v1
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Morphological and electrical characterizations of graphene exfoliated by liquid wayGraphene Conference 2014, May 2014, Toulouse, France. Proceedings of the 4th edition of Graphene Conference
Poster de conférence
hal-01099345
v1
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Conducting probe atomic force microscope as a relevant tool for studying some phenomena in MEMS switchesGreenBAN 2014, Nov 2014, Paris, France. Proceedings of the International Workshop on Green Solutions for Body Area Networks, pp.63 - 66
Poster de conférence
hal-01099238
v1
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Improvement of electrical contacts reliability in a magnetic MEMS switchFailure analysis - A practical guide for manufacturers of electronic components and systems, John Wiley & Sons Ltd, pp.270-274, 2011
Chapitre d'ouvrage
hal-00715286
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Appareil de mesure de la résistance électrique locale d'une surfaceN° de brevet: PCT/IB2011/051951. 2011
Brevet
hal-00715270
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Appareil de mesure de la résistance électrique locale d'une surfaceFrance, N° de brevet: FR 10 01940. 2010
Brevet
hal-00557019
v1
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Transfert de savoir-faire pour la mise en forme, la fabrication et la mise sur le marché du Résiscope2007
Autre publication scientifique
hal-00320405
v1
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Améliorations apportées au dispositif de mesure rapide de courant et de résistance électrique pouvant varier sur plusieurs décades2006
Autre publication scientifique
hal-00320345
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Réduction de l'inductance propre d'une boucle conductrice, application à la réalisation de contacts pour interposeurs2005
Autre publication scientifique
hal-00320266
v1
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