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Mohamed Lemine Dedew

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  • IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique
  • Université Paris-Saclay
  • Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Energie (SATIE)
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Publications

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Failure Mechanisms of GaN HEMTs in Single Event Destructive Short-Circuit at Different VDS Voltage Levels

Mohamed Lemine Dedew , Stéphane Lefebvre , Tien Anh Nguyen , Thanh Long Le , Valeria Rustichelli et al.

ESREF 2025 : 36th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 2025, Université de Bordeaux, ADERA, Oct 2025, Bordeaux, France

Communication dans un congrès hal-05323097v1
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Niveau de saturation du courant de drain et son impact sur la robustesse des transistors GaN en régime de court-circuit répétitif

Mohamed Lemine Dedew , Stéphane Lefebvre , Tien Anh Nguyen , Thanh Long Le , Valeria Rustichelli et al.

Symposium de Génie Électrique SGE 2025, CNRS, UPS, Jul 2025, Toulouse, France

Communication dans un congrès hal-05506756v1
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Effet de la résistance de grille sur la robustesse de transistors GaN en régime de court-circuit

Mohamed Lemine Dedew

Journées couplées du GDR SEEDS et de la conférence JCGE - Jeunes Chercheurs en Génie Electrique, GDR SEEDS, Jun 2024, 44490 Le Croisic, France

Communication dans un congrès hal-04828333v1