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Interplay of structure and photophysics of individualized rod-shaped graphene quantum dots with up to 132 sp² carbon atoms
Daniel Medina-Lopez
,
Thomas Liu
,
Silvio Osella
,
Hugo Levy-Falk
,
Nicolas Rolland
et al.
Article dans une revue
hal-04187762
v1
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Grain size effect on interfacial segregation in nanomaterials
F. Danoix
,
K. Hoummada
,
P. Maugis
,
N. Rolland
,
C. Debreux
et al.
Article dans une revue
hal-03855610
v1
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Grain size effect on interfacial segregation in nanomaterials
F. Danoix
,
K. Hoummada
,
P. Maugis
,
N. Rolland
,
C. Debreux
et al.
Article dans une revue
hal-04018877
v1
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A model to predict image formation in the three-dimensional field ion microscope
Benjamin Klaes
,
Rodrigue Lardé
,
Fabien Delaroche
,
Stefan Parviainen
,
Nicolas Rolland
et al.
Article dans une revue
hal-02571970
v1
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Impact of local electrostatic field rearrangement on field ionization
Shyam Katnagallu
,
Michal Dagan
,
Stefan Parviainen
,
Ali Nematollahi
,
Blazej Grabowski
et al.
Article dans une revue
hal-02107446
v1
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Atom probe tomography for advanced nanoelectronic devices: Current status and perspectives
J. Barnes
,
A. Grenier
,
I. Mouton
,
S. Barraud
,
G. Audoit
et al.
Article dans une revue
hal-01765929
v1
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New Atom Probe Tomography Reconstruction Algorithm for Multilayered Samples: Beyond the Hemispherical Constraint
Nicolas Rolland
,
François Vurpillot
,
Sébastien Duguay
,
Baishakhi Mazumder
,
James Speck
et al.
Article dans une revue
hal-01766098
v1
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Reconstructing APT Datasets: Challenging the Limits of the Possible
François Vurpillot
,
David Zanuttini
,
Stefan Parviainen
,
Baishaikhi Mazumder
,
Nicolas Rolland
et al.
Article dans une revue
hal-02107482
v1
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Accuracy of analyses of microelectronics nanostructures in atom probe tomography
François Vurpillot
,
Nicolas Rolland
,
Robert Estivill
,
Sébastien Duguay
,
D. Blavette
Article dans une revue
hal-01928850
v1
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Three dimensional imaging and analysis of a single nano-device at the ultimate scale using correlative microscopy techniques
A. Grenier
,
Sébastien Duguay
,
J. P. Barnes
,
R. Serra
,
Nicolas Rolland
et al.
Article dans une revue
hal-01928856
v1
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An analytical model accounting for tip shape evolution during atom probe analysis of heterogeneous materials
Nicolas Rolland
,
D. J. Larson
,
B. P. Geiser
,
Sébastien Duguay
,
François Vurpillot
et al.
Article dans une revue
hal-01928854
v1
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Dynamic evolution and fracture of multilayer field emitters in atom probe tomography: a new interpretation
Nicolas Rolland
,
François Vurpillot
,
Sébastien Duguay
,
Didier Blavette
Article dans une revue
istex
hal-02107622
v1
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A Meshless Algorithm to Model Field Evaporation in Atom Probe Tomography
Nicolas Rolland
,
François Vurpillot
,
Sébastien Duguay
,
Didier Blavette
Article dans une revue
hal-02107013
v1
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